芯片检测_星秒科技,星秒科技 - 量子精密测量与智能光学传感 ,

应用内容模型
芯片解决方案
在芯片领域,产品用于芯片失效分析和合格性测试。对于不断压缩的芯片信号传输和处理延迟,对时序、抖动、延迟等时间特性的测量要求也不断提高,也是这类高速芯片的核心指标。星秒提供的高精度时间采集系统,可在皮秒精度下测试测算芯片各项时间参数,判断器件性能是否满足设计标准,快速定位晶圆工艺缺陷,并且这种新型的手段相比于传统的高速示波器方案,成本和效率上均有极大提升。
应用领域 芯片检测
芯片时间参数测定
作为时间抖动检测的高精度测量工具,记录信号事件的实际到达时刻,通过大量重复采样统计时间偏差分布,精准计算抖动的均方根值、峰峰值与直方图特征,量化各类高速芯片的时间特性,以完成失效分析或合格性测试。星秒高精度时间采集系统可在皮秒精度下完成芯片各项时间参数测试测算,主要针对时序、抖动、延迟等时间特性既能核验器件性能是否满足设计标准。
芯片时间参数测定
ATE自动测试和数字芯片时序测量
星秒高精度时间采集系统可集成于ATE自动测试设备,为数字芯片时序测量提供高精度时间分析能力。记录芯片输入输出信号的跳变时刻,精确测量传播延迟、建立时间、保持时间、时钟偏移等关键时序参数,验证芯片是否满足设计规范。支持多引脚并行测试,直观呈现时序分布与裕量,快速定位时序异常。适用于数字芯片量产筛选、设计验证、可靠性测试等环节,保障测试效率,减少漏测,为芯片性能评估与良率管控提供可靠的时序数据支撑,助力提升自动测试的精度与吞吐能力。
ATE自动测试和数字芯片时序测量